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半導體生產流程中，為維護產出品質、穩定良率，從Wafer、Die到Chip各階段皆耗費許多人力與時間進行品檢。品檢作業不僅拉長生產時程，更會因無法全檢和人工檢查的標準不一，而無法達到穩定品質、提升良率的最終目的。 AlphaDIS瑕疵檢驗系統是一套運用人工智慧協助所有半導體廠，從Wafer 、Die到Chip的全面瑕疵檢驗解決方案。半導體生產各階段流程中，因產品型態的改變，會有不同的瑕疵狀況產生，故所需檢測的瑕疵種類皆不盡相同。AlphaDIS瑕疵檢驗系統可針對IC生產的每個階段，透過人工智慧的學習進行全面品檢，找出有問題的部分，予以排除。同時將瑕疵狀況進行分類建檔，以利日後追蹤查詢。 AlphaDIS瑕疵檢驗系統有效運用人工智慧持續學習，提供穩定一致且不斷進步的檢測標準，把關品檢的第一道檢序，加速品檢時程，提高瑕疵檢出的正確率，穩定產品品質，提升良率。是一套完整的半導體生產智慧瑕疵檢驗解決方案。
AlphaDIS是一套運用人工智慧協助半導體廠進行瑕疵檢驗的完整解決方案。導入本系統能有效穩定產品品質、提高生產效率、提升良率、減低工時與人力成本，為客戶帶來實質的生產效益。
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自動光學檢測
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